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芯片高低溫試驗箱 半導體封裝可靠性檢測專為半導體封裝可靠性檢測設計,融合高精度控溫與智能監測技術。采用 7 英寸彩色觸控屏,支持多段溫度曲線編程,可精準模擬 - 60℃至 150℃溫度環境。箱體配備進口鉑電阻傳感器與 PID 自整定算法,實現 ±0.3℃溫度波動度,確保芯片在溫變測試中數據精準可靠。
聯系電話:0769-81085056
芯片高低溫試驗箱 半導體封裝可靠性檢測
一、產品詳情
芯片高低溫試驗箱 半導體封裝可靠性檢測
二、產品用途
溫度范圍:-60℃~150℃
溫度波動度:±0.3℃,均勻度 ±1.5℃
升降溫速率:5℃/min(空載),支持定制至 15℃/min
內膽尺寸:400×500×400mm(可定制)
電源:AC380V±10%,50Hz
安全保護:超溫報警、壓縮機過載保護、漏電保護
五、加濕系統
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聯系郵箱:1835382008@qq.com
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