鹽霧試驗箱 電子元件抗老化檢測專用設(shè)備

產(chǎn)品詳情

本品為電子元件抗老化檢測專用鹽霧試驗箱，是一款利用含鹽溶液在特定箱體內(nèi)形成彌漫霧狀環(huán)境，以加速評估電子元器件、PCB線路板、金屬鍍層及外殼材料耐腐蝕性能與抗老化能力的精密環(huán)境模擬設(shè)備。其通過嚴格模擬海洋、工業(yè)大氣等惡劣腐蝕環(huán)境，在短時間內(nèi)再現(xiàn)電子元件因鹽霧侵蝕造成的老化、失效過程，是產(chǎn)品質(zhì)量控制、可靠性驗證及新品研發(fā)的關(guān)鍵設(shè)備。

主要用途

本設(shè)備專用于各類電子元器件的抗老化與耐腐蝕測試，具體包括：PCB印刷電路板的鍍層孔隙率、抗蝕性能測試；電子接插件、連接器的導電性與接觸可靠性驗證；半導體元件、IC芯片封裝外殼的耐腐蝕能力評估；以及各類金屬緊固件、外殼鍍層在鹽霧環(huán)境下的耐久性試驗，符合ISO 9227、ASTM B117、JIS Z2371等國際通用標準。

鹽霧試驗箱 電子元件抗老化檢測專用設(shè)備

技術(shù)參數(shù)

• 溫度范圍：室溫～55℃（中性鹽霧試驗）

• 溫度波動度：±0.5℃

• 鹽霧沉降量：1.0～2.0ml/80cm2·h（可調(diào)）

• 噴霧方式：連續(xù)/周期任選（支持交變循環(huán)）

• 試驗室容積：根據(jù)需求定制（如150L、270L、1000L等）

• 電源電壓：AC220V±10% 50Hz

• 滿足標準：GB/T 2423.17, IEC 60068-2-11, ISO 9227, ASTM B117

箱體結(jié)構(gòu)與材質(zhì)

• 整體結(jié)構(gòu)：采用式工作室結(jié)構(gòu)，試驗區(qū)域與設(shè)備機械控制區(qū)域分離，確保長期穩(wěn)定運行。

• 內(nèi)膽材質(zhì)：采用進口高品質(zhì)耐高溫、高抗腐蝕PP（聚丙烯）板材，一體成型焊接，無焊縫、不漏氣，確保長期接觸鹽霧無腐蝕。

• 外殼材質(zhì)：優(yōu)質(zhì)A3鋼板，表面經(jīng)靜電噴涂防腐處理，防潮耐腐蝕，外觀整潔美觀。

• 密封蓋：采用透明亞克力或PC材料，耐沖擊、耐腐蝕，便于清晰觀察箱內(nèi)測試狀況。

產(chǎn)品特點

• 高精度控制：采用智能PID溫控儀，控溫精準，波動小，確保測試條件的一致性。

• 全自動運行：配備觸摸屏人機界面，程序設(shè)定簡便，可自動完成預(yù)熱、噴霧、飽和桶加熱、除霧等全過程。

• 耐腐蝕設(shè)計：箱體內(nèi)部所有附件，包括噴嘴、塔柱、支架、加熱器等，均采用耐腐蝕材料（如CPVC、鈦合金）制造，壽命長久。

風道系統(tǒng)

采用設(shè)計的伯努利吸嘴式鹽霧系統(tǒng)，霧化均勻細膩，沉降量穩(wěn)定可調(diào)。內(nèi)置渦流式氣霧分離裝置，有效去除壓縮空氣中的雜質(zhì)與油分，確保純凈鹽霧。科學的風道結(jié)構(gòu)保證箱內(nèi)溫度均勻性，并使鹽霧能自然均勻地沉降在樣品表面。

設(shè)備亮點

1. 電子元件專用設(shè)計：特別考慮了電子元件測試中對沉降量均勻性、腐蝕產(chǎn)物潔凈度的苛刻要求。

2. 超長周期運行可靠性：核心部件均選用耐腐蝕品牌件，支持數(shù)千小時不間斷測試，故障率極低。

3. 多重保護系統(tǒng)：具備低鹽水、超溫、過載、漏電等多重安全保護功能，確保人與設(shè)備的安全。

優(yōu)勢總結(jié)

本鹽霧試驗箱以精準的控溫技術(shù)、均勻穩(wěn)定的鹽霧沉降、耐腐蝕的箱體材質(zhì)以及高度自動化的操作，為電子元件行業(yè)提供了一種高效、可靠、符合標準的抗老化與耐腐蝕試驗解決方案，能顯著提升產(chǎn)品質(zhì)量可靠性驗證的效率和準確性。