產(chǎn)品分類

Cassification

恒溫恒濕試驗箱

冷熱溫控試驗箱高低溫恒溫恒濕試驗箱小型恒溫恒濕試驗箱大型恒溫恒濕箱步入式恒溫恒濕試驗箱1 快速溫度變化試驗箱桌上型恒溫恒濕試驗箱恒溫恒濕實驗箱可編程式恒溫恒濕試驗箱可程式恒溫恒濕試驗箱

查看全部產(chǎn)品 >>

相關(guān)文章

Articles

產(chǎn)品展示/ Product display

您的位置：首頁 / 產(chǎn)品展示 / 恒溫恒濕試驗箱 / 快速溫度變化試驗箱 / TEB-408PF芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱

芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱

芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱專為滿足芯片及集成電路在復(fù)雜溫度環(huán)境下的性能測試需求而研發(fā)。可精準模擬 - 70℃至 150℃高低溫環(huán)境，并實現(xiàn) 20℃/min 的溫變速率，快速且穩(wěn)定地完成高低溫循環(huán)測試，有效檢測芯片在溫度劇變下的電氣性能、可靠性和穩(wěn)定性，為芯片研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量管控提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。

產(chǎn)品型號：TEB-408PF
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時間：2025-08-20
訪問量：564

立即咨詢

聯(lián)系電話：0769-81085056

詳細介紹

芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱生產(chǎn)廠家廣東皓天檢測儀器有限公司擁有專業(yè)的生產(chǎn)研發(fā)技術(shù)，一站式周到服務(wù)。作為一家專注于試驗設(shè)備產(chǎn)品的大型儀器制造商，皓天設(shè)備致力于為消費者提供技術(shù)、品質(zhì)的優(yōu)秀產(chǎn)品。

一、產(chǎn)品概述

快速溫變試驗箱專為滿足芯片及集成電路在復(fù)雜溫度環(huán)境下的性能測試需求而研發(fā)。可精準模擬 - 70℃至 150℃高低溫環(huán)境，并實現(xiàn) 20℃/min 的溫變速率，快速且穩(wěn)定地完成高低溫循環(huán)測試，有效檢測芯片在溫度劇變下的電氣性能、可靠性和穩(wěn)定性，為芯片研發(fā)、生產(chǎn)及質(zhì)量管控提供可靠的數(shù)據(jù)支撐。

芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱

芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱

二、基本結(jié)構(gòu)

試驗箱采用內(nèi)外雙層箱體設(shè)計，外層為高強度冷軋鋼板，表面經(jīng)環(huán)保靜電噴塑處理，堅固耐用且防銹抗腐蝕；內(nèi)層選用 SUS304 不銹鋼材質(zhì)，無毒無污染，便于清潔和維護。箱體中間填充高效隔熱材料，形成良好的保溫層，減少熱量傳遞。配備大尺寸觀察窗和內(nèi)部照明系統(tǒng)，方便實時觀察箱內(nèi)芯片測試狀態(tài)；搭配全觸控智能操作面板，可直觀設(shè)置和調(diào)整測試參數(shù)，操作便捷。

三、工作原理

通過智能 PID 溫度控制系統(tǒng)，結(jié)合高精度鉑電阻溫度傳感器，實時采集箱內(nèi)溫度數(shù)據(jù)，并與預(yù)設(shè)程序進行對比分析。依據(jù)差值，自動精確調(diào)節(jié)制冷壓縮機和電加熱絲的工作狀態(tài)，實現(xiàn)快速升溫和降溫。同時，內(nèi)置強風循環(huán)系統(tǒng)，確保箱內(nèi)溫度均勻性，使芯片各部位都能接受穩(wěn)定、一致的溫度測試環(huán)境。

四、技術(shù)參數(shù)

溫度范圍：-70℃ ～ 150℃

溫度波動度：±0.5℃

溫度均勻度：≤2℃

溫變速率：線性升溫速率20℃/min，線性降溫速率15℃/min

時間設(shè)定范圍：0 ～ 9999 小時

電源要求：AC380V±10% 50Hz，配備過載、漏電、超溫等多重保護功能

五、主要功能及特點

精準控溫：溫度控制精度高，能精準模擬芯片在不同應(yīng)用場景下的溫度環(huán)境，滿足嚴格的測試標準。

快速溫變：高速溫變速率大幅縮短測試周期，提高測試效率，加速芯片研發(fā)和生產(chǎn)進程。

多樣測試模式：支持程式編輯功能，可自由設(shè)定多段溫度、時間參數(shù)，模擬復(fù)雜的溫度變化曲線，滿足不同芯片的測試需求。

智能監(jiān)控與數(shù)據(jù)管理：具備遠程監(jiān)控功能，可通過網(wǎng)絡(luò)實時查看試驗箱運行狀態(tài)；支持測試數(shù)據(jù)自動記錄、存儲和導(dǎo)出，方便后期分析和追溯。

安全可靠：多重安全防護機制，如超溫報警、壓縮機過載保護、漏電保護等，確保設(shè)備和測試芯片的安全。

六、用途與應(yīng)用場景

在芯片研發(fā)階段，用于驗證芯片設(shè)計方案的可行性，檢測芯片在溫度下的性能表現(xiàn)，幫助優(yōu)化芯片架構(gòu)和工藝；芯片生產(chǎn)過程中，作為關(guān)鍵的質(zhì)量檢測設(shè)備，對每批次芯片進行抽檢或全檢，確保產(chǎn)品質(zhì)量符合標準；在集成電路封裝測試環(huán)節(jié)，模擬實際應(yīng)用環(huán)境，測試封裝后的芯片性能穩(wěn)定性。廣泛應(yīng)用于芯片設(shè)計公司、半導(dǎo)體制造企業(yè)、科研院校實驗室以及第三方檢測機構(gòu)等。

留言詢價

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯數(shù)字），如：三加四=7

芯片集成電路高低溫快速溫變試驗箱

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：